ev eşya depolama eşya depolama

Ana Sayfa / Teknoloji / Mühendislik tekniği zararlı materyal araştırmalarını ortaya koyuyor

Mühendislik tekniği zararlı materyal araştırmalarını ortaya koyuyor

Yaygın olarak kullanılan mikroskopi tekniğinde istenmeyen sonuçlar doğar; yeni araştırmalar ortaya çıkar. Bilim adamlarının ufak materyalleri manipüle etme ve inceleme kabiliyetinde devrim yaratan bir teknik, yapısal kimliğini değiştirerek belirgin olmayan istenmeyen sonuçlar doğurabilir, yeni araştırma ortaya çıkar.

Yeni Oxford Üniversitesi araştırmaları, bilim insanlarının nano ölçeğe sahip materyalleri manipüle etme ve inceleme kabiliyetinde devrim yaratan bir teknikte istenmeyen sonuçlara neden olabileceğini ortaya koyuyor.

Odaklı İyon Işını Frezeleme (FIB), insan saçlarının binde birinden daha küçük malzemeleri kesmek ve analiz etmek için çok enerjik parçacıklardan oluşan küçük bir ışın kullanır.

Bu olağanüstü yeteneği, malzeme bilimi ve mühendisliği ile biyoloji ve yer bilimleri alanlarında bilim alanlarını dönüştürdü. FIB şu anda bir dizi uygulama için vazgeçilmez bir araçtır; Havacılık mühendisliği, nükleer ve otomotiv uygulamaları ve mikro-elektronik ve mikro akışkanlardaki prototipleme için yüksek performanslı alaşımlar araştırıyor.

FIB’nin kesilen malzemenin ince bir yüzey tabakasında (onlarca atom kalınlığında) yapısal hasara neden olduğu daha önce anlaşıldı. Şimdiye kadar FIB’nin etkilerinin bu ince hasarlı tabakanın ötesine geçmeyeceği düşünülüyordu. Oxford Üniversitesi’nden yeni ortaya çıkan yeni sonuçlar, durumun böyle olmadığını gösteriyor ve FIB’nin materyalin yapısal kimliğini dramatik bir şekilde değiştirebildiğini gösteriyor. Bu çalışma, Argonne Ulusal Laboratuarı, ABD, LaTrobe Üniversitesi, Avusturalya ve İngiltere’deki Culham Merkezi Fusion Energy’den meslektaşları ile birlikte yürütülmüştür.

Scientific Reports dergisinde yeni yayınlanan araştırmada ekip, tutarlı senkrotron X-ışını kırınımı adlı bir teknik kullanarak FIB’nin neden olduğu hasarı inceledi. Bu, ultra-parlak yüksek enerjili X-ışınlarına dayanır ve yalnızca Argonne National Lab, ABD’deki Advanced Photon Source gibi merkezi tesislerde bulunur. Bu X-ışınları, malzemelerin 3D yapısını nano ölçekte sorgulayabilir. Sonuçlar, daha önce önemsiz olduğu düşünülen çok düşük FIB dozlarının dramatik bir etkisinin olduğunu göstermektedir.

Oxford Mühendislik Bilimleri Bölümü Öğretim Üyesi Doç. Dr. Felix Hofmann, “Araştırmamız FIB kirişlerinin ilk düşünülenden çok daha kapsamlı sonuçlara yol açtığını ve bunun neden olduğu yapısal hasarın önemli olduğunu gösteriyor” dedi. FIB’nin bilim ve teknolojide oynadığı rolü göz önüne alındığında, FIB hasarının etkilerini ve bunun kontrol altına alınmasının nasıl etkili bir şekilde anlaşılacağı konusunda yeni stratejiler geliştirmenin acil bir ihtiyacı var “dedi.

FIB’nin geliştirilmesinden önce, numune hazırlama teknikleri sınırlıydı, yalnızca bölümlerin malzeme kütlesinden hazırlanmasına izin verildi, ancak belirli özelliklerden değil. FIB, bir malzemenin belirli bölgelerindeki küçük kuponları kesebilmeyi mümkün kılarak bu alanı dönüştürdü. Bu ilerleme, bilim adamlarının yüksek özünürlüklü elektron mikroskoplarını kullanarak belirli materyal özelliklerini incelemelerini sağladı. Ayrıca, tehlikeli veya aşırı derecede değerli materyallerin çalışılması için bir gereklilik olan küçük materyal numunelerinin mekanik testlerini yapmıştır.

Profesör Hofmann, akranları için FIB’nin ciddi sonuçlarına kulak asmak için istekli olmasına rağmen “Bilim camacılığı bir süredir bu meselenin farkındaydı ancak hiç kimse (kendim dahil değilim) sorunun ölçeğini anlamıştı. FIB’nin bu tür invaziv yan etkileri olduğunu biliyordum.Bu teknik çalışmalarımızın ayrılmaz bir parçası ve prototipleme ve mikroskopi yaklaşımımızı bilim şeklimizi tamamen değiştirerek değiştirdi ve modern yaşamın merkezi bir parçası haline geldi “dedi.

İleri hareket ederek, ekip FIB hasarı konusunda farkındalık geliştirme konusunda isteklidir. Dahası, oluşan hasarın ve nasıl ortadan kaldırılacağının daha iyi anlaşılması için mevcut çalışmalarına devam edecekler. Professor Hofmann, “Nasıl daha iyi olabileceğimizi öğrendik. Tekniği körü körüne kullanıp FIB’nin neden olduğu çarpıklıkları nasil görebildiğimizi göstermeye çalıştık.” FIB zararını hafifletmek için yaklaşımları düşünebiliriz. Önemli olan yeni Geliştirdiğimiz röntgen teknikleri, bu yaklaşımların ne kadar etkili olduğunu değerlendirmemize izin verecek ve bu bilgilerden sonra FIB hasarını etkin bir şekilde yönetmek için stratejiler oluşturmaya başlayabiliriz “dedi.

Kaynak:

Oxford Üniversitesi

Hakkında Harun Güneri

1986 yılında Gaziantep'te doğan Harun Güneri, Gaziantep üniversitesi Bilgisayar Programcılığı bölümünden mezun olmuştur. Gaziantep doğumlu olan Harun Güneri, hayatına yine doğduğu ve üniversite eğitimini tamamladığı Gaziantep’te devam etmektedir. Kendi kurduğu bilgisayar şirketi olan Harun Güneri, Özellikle "Teknoloji" alanında profesyonel bir bakış açısıyla makaleler yazmakta ve okuyucularımızın hizmetine sunmaktadır. Mail: harunguneri@antep.org - Adres : Karataş Mah. 400 Nolu Cad. No:41/B Şahinbey/Gaziantep - Tel : +90 546 214 18 84

Bu habere de bakabilirisiniz

Yağ türleri: İyi ve kötü

Yağ besindir. Normal vücut fonksiyonu için çok önemlidir ve yoksa yaşayamadık. Sadece yağ bize enerji sağlamaz, aynı ...

Bir Cevap Yazın

E-posta hesabınız yayımlanmayacak. Gerekli alanlar * ile işaretlenmişlerdir